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X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (XAFS)
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X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (XAFS)

X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具,廣泛應用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。
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產(chǎn)品描述
參數

 

技術(shù)參數:

 

 

 

 

核心優(yōu)勢:

 

  • 最高光通量產(chǎn)品

    光子通量高于1000000光子/秒/eV,采譜效率數倍于其他產(chǎn)品;獲得和同步輻射一樣的數據質(zhì)量

  • 優(yōu)異的穩定性

    光源單色光強度穩定性?xún)?yōu)于0.1%,重復采集能量漂移 < 50 meV

  • 1%探測極限

    高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和極好的光源穩定性確保所測元素含量>1%時(shí)依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數據

 

 

 

儀器原理:

X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具,廣泛應用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。

 

實(shí)驗室單色儀XES測試幾何結構

實(shí)驗室單色儀XAFS測試幾何結構

 

mn.jpgMn數據,Mn K-edge XAFS數據,數據與同步輻射光源一致

 

清晰.jpg
Fe樣品Kβ發(fā)射譜數據:core to core XES 和 valence to core XES

 

 

 

 

測試數據:

Foil EXAFS數據

微信圖片_20230619114508.jpg

 

可測元素:綠色部分可測K邊,黃色部分可測L邊

 

 

 

 

應用領(lǐng)域:

工業(yè)催化、儲能材料、納米材料、環(huán)境毒理、也質(zhì)分析、重元素分析等

 

 

 

 

 

 

關(guān)鍵詞:
X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀
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